EVOLUSI MIKROSKOP

Indra penglihatan manusia memiliki keterbatasan untuk melihat materi yang memiliki ukuran amat kecil. Besarnya keingintahuan Hans Janssen dan Zacharias Janssen terhadap benda-banda kecil yang memiliki skala kecil itu memacu mereka merancang alat pembesar yang kemudian di kenal dengan mikroskop. Mikroskop semakin berkembang, mulai dari mikroskop optik, elektron, hingga kini ada mikroskop nano.

Mikroskop yang dirakit lensa optik itu memiliki kemampuan terbatas dalam memperbesar suatu objek. hal itu di sebabkan keterbatasan difraksi cahaya yang di tentukan panjang gelombang cahaya. Panjang gelombang cahaya pada mikroskop optik hanya sampai 200 nanometer. Mikroskop elektron mempunyai kemampuan pembesaran objek (resolusi) yang lebih tinggi di bandingkan mikroskop elektron. Perbedaan mikroskop optik dengan mikroskop elektron adalah fungsi pembesaran objeknya. Mikroskop optik menggunakan lensa dari jenis gelas, sedangkan mikroskop elektron menggunakan jenis magnet. Sifat medan magnet di gunakan untuk mengendalikan elektron yang melaluinya.  Karakter khusus lain dari mikroskop elektron adalah pengamatan objek harus dalam keadaan kedap udara. ” hal tersebut bertujuan agar sinar elektron terhambat molekul-molekul di udara”.

Mengukur Materi Nano

Selain TEM, ada mikroskop elektron jenis scanning electron microscopy (SEM) yang dikembangkan pada tahun 1938 oleh ilmuwan asal Jetman Manfred von Ardenne. Prinsip kerja SEM berdasarkan pemindaian sinar elektron pada permukaan objek. Lalu, hasil pemindaian di ubah menjadi gambar. Dalam perkembengannya, SEM dapat di gunakan untuk mengamati materi fisik berukuran nano. Namun resolusi tinggi tersebut hanya akan didapatkan saat pemindaaian arah horizontal, sedangkan pemindaian secara vertikal menghasilkan resolusi rendah.

Pada era ’70-an kelemahan dari TEM di tutupi oleh mikroskop yang di kenal dengan nama scanning probe microscopy (SPM). resolusi tinggi SPM tidak dipengaruhi cara pemindaian baik dari arah horizontal maupun vertikal. Bahkan SPM saat itu memungkinkan untuk melihat struktur sekecil atom.

Generasi mikroskop selanjutnya berkembang pada 1982 dengna di ciptakannya scanning tunneling microscope (STM) karya Gerd Binnig dan Heinrich Rohrer. Prinsip kerja STM berdasarkan kontrol lompatan arus listrik antara objek dan cantilever. Sedangkan, generasi selanjutnya adalah atomic force microscope (AFM)   yang bekerja atas dasar kontrol gaya antar-atom di permukaan objek dan cantilever.

(Koran Jakarta, kamis 12 februari 2009)

2 Tanggapan

  1. waah artikelnya menarik sekali
    memberikan kita wawasan yang luas tentang dunia optik…salam

    • thank ya,…oh ya katanya indonesia telah mampu membuat Atomic force microscope karya Dr ratno Nuryadi peneliti BPPT

Tinggalkan Balasan

Isikan data di bawah atau klik salah satu ikon untuk log in:

Logo WordPress.com

You are commenting using your WordPress.com account. Logout / Ubah )

Gambar Twitter

You are commenting using your Twitter account. Logout / Ubah )

Foto Facebook

You are commenting using your Facebook account. Logout / Ubah )

Foto Google+

You are commenting using your Google+ account. Logout / Ubah )

Connecting to %s

%d blogger menyukai ini: